钙钛矿广泛用于太阳能电池的开发。由于这些类型的太阳能电池具有良好的光伏性能，因此对它们进行了系统的研究。钙钛矿薄膜的厚度和形态是影响太阳能电池性能的重要因素。人们发现，特别当钙钛矿的厚度小于400nm时，钙钛矿太阳能电池的效率很大程度上取决于薄膜厚度；而当钙钛矿的厚度大于400nm时，效率则很大程度上取决于钙钛矿层的薄膜形态。在本篇方案说明中，我们使用FR-pRo VIS/NIR测量钙钛矿薄膜的厚度。

FR-pRo VIS/NIR

测量方法：用于表征的样品是两种不同厚度的CH3NH3PbBr3钙钛矿薄膜，它们位于标准ITO/SiO2/Soda-lime基底上，如图1所示。使用ThetaMetrisis FR-pRo VIS/NIR进行反射测量，在350-1020nm的光谱范围内操作。

图1.基底示意图

结果：两种样品的典型获得的反射光谱（黑线）和拟合的反射光谱（红线），如FR监控软件所示，分别在图2a 和 图2b中所示。两种测量方法的拟合在500-750nm光谱范围内进行，样品1中钙钛矿薄膜的厚度在516.9nm处测量，而样品2中的厚度在394.4nm处测量。

图2a：样品1的实验和拟合反射光谱，在515nm处测得的厚度。

图2b：样品2的实验和拟合反射光谱，在392nm处测得的厚度。

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FR-Pro系列膜厚仪是基于光的反射光谱，非接触、无损测量、安全*辐射，快速膜厚分析，只需几秒即可获得测量结果。测量范围 1nm - 300μm；的分析准确度，在整个厚度测量范围内偏差小于1nm；可同时分析计算最多10层膜厚；可同时支持实验室离线分析或者在线生产分析。

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