光学膜厚仪
的优点
1.非接触式测量
采用的原理是通过光的反射原理对膜层厚度进行测量，属于非接触式测量方法，不会对样品造成任何损伤，能够保证样品的完整性。
2.测量数据多样
可以测得物体的膜厚度和n，k数据，这是其它类型的膜厚仪所不具备的特点。
3.测量快速
测量过程非常快速，因为该设备采用了*结构设计，能够极大程度的提升测量效率，相比于其他类型膜厚测量设备来说显得非常轻巧方便。
4.适用范围广
适用范围非常广泛，从普通家用到工厂的工业生产，再到大学实验室和科学研究所，都可以看到它的身影，由此可见它的使用范围极其广泛，能够作业的场合也变得更加多样化。
光学膜厚仪的使用注意事项
1.零点校准
在每次使用膜厚仪之前需要进行光学校准，因为之前的测量参数会影响该次对物体的测量，零点校准可以消除前次测量有参数的影响，能够降低测量的结果的误差，使测量结果更加精确。
2.基体厚度不宜过薄
在使用
光学膜厚仪对物体进行测量时基体不宜过薄，否则会极大程度的影响仪器的测量精度，造成数据结果不准确，影响测量过程的正常进行。
3.物体表面粗糙程度
对于被测物体的表面不宜太过粗糙，因为粗糙的表面容易引起光的衍射，降低了测量精度，造成很大的误差。所以被测物体的表面应该尽量保持光滑，以保证测量结果的精确性。
以上便是今天关于迈可诺总结的关于光学膜厚仪使用的事项真是齐全到位啊的全部分享了，希望对大家今后使用本设备能有帮助。
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