全自动八度角积分式立式反射率测试仪SM120，应用在电池片制绒工序监控环节，为客户电池片质量品质把控，降低损耗提供了有效的检测方案。

SM280自动显微薄膜厚度测绘仪采用显微系统，可以进一步缩小光斑大小，从而实现非常优秀的空间分辨率。同时，SM280采用一体化设计，核心器件采用高分辨率、高灵敏度光谱仪和高精度的3轴移动平台。

SM230是一款利用利用薄膜反射光干涉原理研制而成的自动光学薄膜厚度扫描测绘仪，由测绘主机、测绘平台、Y型光纤及上位机软件搭建而成，核心器件采用高分辨率、高灵敏度光谱仪和高精度的旋转平台，

SM200系列光学薄膜厚度测量仪是一款利用利用薄膜反射光干涉原理研制而成的自动薄膜厚度测绘仪，由测绘主机、测绘平台、Y型光纤及上位机软件搭建而成，核心器件采用高分辨率、高灵敏度光谱仪结合算法技术。

品牌：希腊ThetaMetrisis 名词：膜厚仪 膜厚仪、测厚仪、干涉仪、厚度测量仪 干涉仪是利用干涉原理测量光程之差从而测定有关物理量的光学仪器。两束相干光间光程差的任何变化会非常灵敏地导致干涉条纹的移动，而某一束相干光的光程变化是由它所通过的几何路程或介质折射率的变化引起，所以通过干涉条纹的移动变化可测量几何长度或折射率的微小改变量，从而测得与此有关的其他物理量。

品牌：希腊ThetaMetrisis 名词：膜厚仪 膜厚仪、测厚仪、干涉仪、厚度测量仪 干涉仪是利用干涉原理测量光程之差从而测定有关物理量的光学仪器。两束相干光间光程差的任何变化会非常灵敏地导致干涉条纹的移动，而某一束相干光的光程变化是由它所通过的几何路程或介质折射率的变化引起，所以通过干涉条纹的移动变化可测量几何长度或折射率的微小改变量，从而测得与此有关的其他物理量。