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详细介绍
芯片热管理分析系统DMS是一款专门研究芯片在自工作状态下的发热、热流、热分布及热扩散情况的设备。作为一款专业的微观热分析系统,其在微观热成像及微纳米材料的热传导性能上做了很多功能的集成和优化,广泛适用于芯片工作的热监控,气体传感器的热分析,微反应器的温度特性,微致动器的温度测量,生物样品的温度分析,材料热检验,热流体分析等等,是关注微观热分布和热流动的科研或生产的一个重要的工具。
【IRTool Pro 专业红外分析软件】
帮助用户快速使用Yoseenx系列红外热像仪产品,支持红外画面与测温的预览和设备管理。
数字流媒体输出,支持0NVIF等协议无损压缩算法,支持模拟视频、单帧温度、网络视频流、网络温度流等多种数据传输方式。
芯片热管理分析系统DMS优异的算法,专业红外体验:采用精准测温技术的同时,优异的图像算法更能协助展现场景细微差异。同时支持温度标记,支持铁红、白热、高对比度等多种调色板,为您打造不一样的温度“视界"[SDK]功能丰富方便集成开发适用于多种场景,支持Windows、Linux、I0S及 Android等跨平台二次开发,支持PC、手机、平板及大屏幕等 Web端实时监控。
【多模块多信号调控】
配备交直流源,宽、高频信号发生器,光信号发生器,网络分析仪等,解决声电、光电、热电、电缆、电电等不同领域芯片测试需求可配备探针台模块,结合软件算法分析时间一电流密度、功率密度,解决热流分析问题
可配备微纳米光学显微镜,微米级光学变焦,结合3D存构红外热成像模拟仿真热流,呈现更完整的三维立体热图。
产品功能
1.模拟信号输出
2.器件输出信号监测
3.微米级显微热成像
4.定点温度--时间分析
5.芯片高低温点定向查找
应用功能
1.滤波器芯片局部热成像及失效分析
2.二极管之类的电光器件散热分析
3.集成电路中电路缺陷查找
4.器件的失效分析、寿命评估
5.MEMS 气体传感器的温度测量
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